長沙艾克賽普儀器設備有限公司
長沙艾克賽普儀器設備有限公司
捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配了照明系統球差校正器，是一款原子分辨分析型透射電鏡，擁有的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。標配照明系統球差校正器，且限度地提升了裝置的機械穩定性和電氣穩定性，實現了的STEM-HAADF...
| 分辨率 | |
|---|---|
| 掃描透射暗場像 | 82pm（加速電壓200kV、肖特基場發射電子槍） 78pm（加速電壓200kV、冷場發射電子槍） |
| 透射像（點分辨率） | 190pm（加速電壓200kV） 110pm（加速電壓200kV、安裝TEM球差校正器） |
| 倍率 | |
| 掃描透射像 | X200～X150,000,000 |
| 透射像 | X50～X2,000,000 |
| 電子槍 | |
| 電子槍 | 肖特基場發射電子槍 冷場發射電子槍（選配件） |
| 加速電壓 | 200～80kV（標準200kV、80kV） |
| 樣品系統 | |
| 樣品臺 | 全對中側插式測角樣品臺 |
| 樣品尺寸 | 3mmΦ |
| 傾斜角 | X軸: ±25° Y軸: ±25°（使用雙傾樣品桿） |
| 移動范圍 | X,Y: ±1mm Z: ±0.1mm（馬達驅動／壓電驅動） |
| 球差校正器 | |
| 照明系統球差校正器 | 標配 |
| 成像系統球差校正器 | 選配件 |
| 選配件 | |
| 主要選配件 | 能譜儀（EDS） 電子能量損失譜儀（EELS） CCD數碼相機系統 TEM/STEM斷層掃描系統 雙棱鏡 |
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
包裝印刷網 設計制作，未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
