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更新時間:2024-11-30 18:28:15瀏覽次數:34次
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原子力顯微鏡FM-Nainoview6800AFM一、功能特點1.光機電一體化設計,外形結構簡單
原子力顯微鏡FM-Nainoview 6800AFM一、功能特點1. 光機電一體化設計,外形結構簡單;2. 掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強;3. 精密激光檢測及探針定位裝置,光斑調節簡單,操作方便;4. 采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;5. 伺服馬達手動或自動脈沖控制,驅動樣品垂直接近探針,實現掃描區域精確定位;6. 高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區域;7. 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據不同精度和掃描范圍要求選擇;8. 采用伺服馬達控制CCD對焦和光學放大;9. 模塊化的電子控制系統設計,便于電路的持續改進與維護;10. 集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統使用。二、友好的軟件1. 可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像2. 具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式3. 多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖4. 多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能5. 可進行掃描區域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區域6. 激光光斑檢測系統的實時調整功能7. 針尖共振峰自動和手動搜索功能8. 可任意定義掃描圖像的色板功能9. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能10. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正11. 支持樣品圖片離線分析與處理功能三、技術規格名 稱參 數名 稱參 數工作模式接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力掃描角度任意樣品尺寸Φ≤90mm,H≤20mm樣品移動范圍0~20mm*大掃描范圍橫向50um,縱向5um光學放大倍數10X掃描分辨率橫向0.2nm,縱向0.05nm光學分辨率1um掃描速率0.6Hz~4.34Hz圖像采樣點256×256,512×512掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反饋方式DSP數字反饋數據采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋采樣速率64.0KHz儀器重量體積40KG,700′480′450mm計算機接口USB2.0運行環境運行于WindowsXP/7/8操作系統
1. 光機電一體化設計,外形結構簡單;
2. 掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強;
3. 精密激光檢測及探針定位裝置,光斑調節簡單,操作方便;
4. 采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;
5. 伺服馬達手動或自動脈沖控制,驅動樣品垂直接近探針,實現掃描區域精確定位;
6. 高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區域;
7. 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據不同精度和掃描范圍要求選擇;
8. 采用伺服馬達控制CCD對焦和光學放大;
9. 模塊化的電子控制系統設計,便于電路的持續改進與維護;
10. 集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統使用。
1. 可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像
2. 具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式
3. 多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖
4. 多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能
5. 可進行掃描區域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區域
6. 激光光斑檢測系統的實時調整功能
7. 針尖共振峰自動和手動搜索功能
8. 可任意定義掃描圖像的色板功能
9. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能
10. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正
11. 支持樣品圖片離線分析與處理功能
接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力
Φ≤90mm,H≤20mm
1um
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