主要針對鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量。

特別為頗具挑戰性的RoHS/ WEEE分析而研發。而且，它還十分適合于測量黃金及其他貴金屬，分析金的成分重復性可達0,5 %.

能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。

對于鍍層：不僅可以測量其成分比例，還可以測量厚度!