深圳市云帆興燁科技有限公司
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LET-5000半導體測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。
LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。
LET-5000 半導體靜態參數測試系統能在 3kV（可擴展為 10kV）和 2200A 的條件下實現精確測量、分析功率半導體器件的靜態參數。LET-5000 具有快脈沖能力，以及亞 pA 級電流檢測能力，并具有優異的寬電壓和電流測量能力。
被測對象及主要測試參數
被測對象 | 主要測試參數 |
分立器件 | Id-Vg，Id-Vd，Ic-Vc,二極管 |
雙極 | Ic-Vc、二極管、Gummel 圖、擊穿、hfe、電容 |
Coms | Id-Vg、Id-Vd、Vth、擊穿、電容、QSCV等 |
內存 | Vth、電容、耐久測試等。 |
MOSFET | Id-Vds,Rds-Id,Id-Vgs,電容 |
IGBT | Ic-Vce，Ic-Vge,Vce(sat),Vth Vge(off),擊穿 |
太陽能電池 | I-V、Cp-V、奈奎斯特圖、DLCP 等。 |
納米器件 | 電阻、Id-Vg、Id-Vd、Ic-Vc等。 |
GaN | FET 電流衰減、Id-Vds 電流衰減、二極管電流 |
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