安徽無陌光學儀器有限公司
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XQ15-GI 激光平面干涉儀
用途：
可廣泛用于工廠的計量室、光學車間和科研院所的實驗室。光學平面的平面度測量、光學平板的微小楔角測量、光學材料均勻性測量、光學薄板波前誤差的測量。
特點：
防震性能好、有的條紋鎖定度、視場清晰、生產場所可用性優于市場同類產品，大容量的工作室為大批量生產企業的大鏡面檢測提供了方便。
標準平面（A面），工作直徑D1=Φ146mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
第二標準平面（B面），工作直徑D2=Φ140mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
準直系統----------------－工作直徑Φ146mm，焦距 f = 400mm
光源規格----------------－激光ZN18(He-Ne)
干涉室尺寸----------------Φ480×380×285mm
可選配攝像裝置
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