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SIRIUS Compact Scan 1.3M
經典型三維光學掃描儀
作為一款輕便、高度移動性的3D 光學掃描儀,SIRIUS Compact Scan 系列同樣采用的藍光技術, 結合ScanTEK Softeware 專業測量軟件, 為您提供一套完整的, 性價比更高的掃描系統。
產品特點:
智能三維光學動態測量技術,自動拼接,輕松獲取工件表面高精度、高密度的三維點云數據;
面輪廓掃描方式,*效率,高分辨率的體現工件細節;
通過安裝不同的鏡頭組,可以覆蓋數毫米至數米范圍內的工件掃描,不僅掃描速度快,還可以兼顧邊界、特征的掃描;
掃描頭通過特殊防護設計,可以實現生產車間的現場測量;
千兆網絡數據接口設計,保障了數據超快傳輸的同時,不失真。
技術規格:
SIRIUS Compact Scan 1.3M | |
測量點 | 2x1,300,000 |
測量點距 | 0.03-0.12mm |
工作距離 | 200-330mm |
掃描時間:秒 | 3秒 |
電纜長度 | 3-10m |
PC | 臺式64位工作站,配置WIN7 |
可用軟件 | ScanTEK Software |
掃描測頭支撐 | 三角架或立柱式支架 |
工作溫度 | 5-40℃ |
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