XRF鍍層測厚儀X-Strata920可應用于PCB、FPC、LED、連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產品、衛浴潔具、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾件、首飾飾品等多個行業、檢測機構和科研院校。可測元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素，同時可測量5層鍍層的厚度。且能在10秒內可得出測量結果

XRF鍍層測厚儀X-Strata920：是牛津儀器發布的新一代鍍層測厚儀；是CMI900的升級換代產品；在CMI900基礎上，改進了系統安全部件、系統軟件進行了更新、測量結果進行多樣化的輸出；是X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀；具有非破壞、非接觸、無損測量；一鍵定焦，有效避免人為操作誤差；快速簡潔，僅需10秒即可得出測量結果。適用于大多數行業，是質量控制、節約成本的*檢測工具。

XRF鍍層測厚儀X-Strata920應用行業：

PCB、FPC、LED、連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產品、衛浴潔具、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾件、首飾飾品等多個行業、檢測機構和科研院校。

XRF鍍層測厚儀X-Strata920工作原理：

對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線，通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，鍍層測厚儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

XRF鍍層測厚儀X-Strata920特點：

可測元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素；

可測鍍層：5層鍍層（含基材層），15種元素共存校正；

測量時間約10秒，快速得出測量結果；

測量結果精確到微英寸；

測量結果報告可包含：數據、被測樣品點圖片、各種統計報表、客戶信息；

提供貴重金屬分析和金純度檢查（即Au karat評價）；

提供NIST認證的標準片；

享有的服務與支持。

測厚范圍：

取決于具體的應用。

測量精度：

膜厚≤20µin（0.5um）時，測量誤差值為：*層±1µin，第二層±2µin，第二層±3µin

膜厚＞20µin（0.5um）時，測量誤差值為：*層±5%，第二層±10%，第二層±15%

牛津生產XRF鍍層測厚儀X-Strata920可檢測多層鍍層元素的厚度，同時也可以分析鍍層金屬元素的成分