ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡
產(chǎn)品介紹
ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源，三級獨立真空設計，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結構表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。
產(chǎn)品特色
▲ 全自動操作
▲ 肖特基場發(fā)射電子槍
▲ 高穩(wěn)定性
▲ 高分辨觀測
▲ 豐富拓展
▲ 易用性強
產(chǎn)品參數(shù)
圖像像素尺寸（默認）：512*512（視頻）2048*2048（拍照）
燈絲類型：場發(fā)射燈絲
電動樣品臺：XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸
探測器類型：BSE、SE、EDS
減速模式：選配（0-10kv樣品臺電壓減速）
應用案例
金顆粒150000X （左）碳納米管 20000X（右）
磷酸鐵鋰 30000X（左）二氧化硅 100000X（右）
